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JEOL(日本電子)電子顯微鏡原廠,780174721N 是原廠原裝 SEM 噴鍍儀專用鉑金 (Pt) 濺射靶耗材,適配 JEC-3000FC 等系列離子濺射鍍膜儀,用于掃描電鏡不導電樣品表面導電膜制備,消除電子束荷電、圖像模糊、漂移問題,適配高分辨場發(fā)射 SEM 觀測。
材質(zhì):高純鉑金 Pt,純度 99.95%
外形尺寸:直徑 φ57mm,厚度 0.1mm 圓形薄片靶材
適配設(shè)備:JEOL JEC-3000FC、JEC 系列臺式濺射鍍膜儀
鍍膜適用樣品:陶瓷、高分子塑料、玻纖、礦物、生物樣品、半導體晶圓等絕緣試樣
膜層特點:顆粒極細、膜層均勻連續(xù),無大顆粒結(jié)晶
單次有效鍍膜時長:根據(jù)樣品數(shù)量,常規(guī)實驗室可連續(xù)使用數(shù)十次鍍膜循環(huán)
存儲條件:常溫干燥避光存放,避免劃傷、氧化污染靶面
超細鉑晶粒,適配超高分辨 SEM 觀測
對比金靶,鉑濺射形成的導電顆粒尺寸更小,高倍下不會出現(xiàn)顆粒偽影,適合納米級形貌、微結(jié)構(gòu)、薄膜截面高清成像。
不干擾 EDS 元素能譜檢測
鉑金特征峰位置避開多數(shù)金屬、非金屬樣品元素峰,做成分分析時無嚴重峰重疊干擾,測試數(shù)據(jù)更精準。
導電膜薄且連續(xù),抑制荷電漂移
極薄鉑膜即可形成完整導電通路,減少電子束堆積電荷,杜絕圖像發(fā)白、漂移、畸變,大幅降低成像調(diào)試難度。
原廠匹配尺寸,安裝即裝即用
φ57 標準尺寸適配 JEOL JEC 濺射設(shè)備腔體卡座,無需裁剪、轉(zhuǎn)接,拆裝便捷,更換僅需 1 分鐘。
高純度穩(wěn)定濺射,使用壽命長
99.95 高純鉑材質(zhì),濺射速率穩(wěn)定,同等厚度下耗材使用周期優(yōu)于普通進口替代靶材,減少頻繁更換停機。
兼容生物、陶瓷、高分子各類絕緣樣品
生物樣品低溫噴鍍不損傷組織;陶瓷、樹脂、復(fù)合材料不會因荷電產(chǎn)生圖像失真。

